赫爾納供應(yīng)瑞士LS Instruments光散射儀LS

赫爾納供應(yīng)瑞士LS Instruments光散射儀LS

赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢(shì)供應(yīng),德國(guó)總部直接采購(gòu)，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品，為您提供一對(duì)一好的解決方案，貨期穩(wěn)定。

公司簡(jiǎn)介：

LS Instruments可用的光散射技術(shù)不允許對(duì)濃縮樣品進(jìn)行研究。此外，存在測(cè)量，而科學(xué)家無(wú)法從結(jié)果中找出這一點(diǎn)。彼得和弗蘭克致力于解決這個(gè)問(wèn)題。目標(biāo)是擴(kuò)展商用光散射技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)渾濁和高濃度樣品的表征。

LS Instruments光散射儀主要產(chǎn)品：

LS Instruments光散射儀

LS Instruments流變儀

LS Instruments光散射儀產(chǎn)品型號(hào)：

LS

V-MALS

LS Instruments光散射儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

粒徑范圍（R h） 0.15 nm 至 5μm

回轉(zhuǎn)半徑 5納米至5微米

分子量 360 - 3˙600˙000 道爾頓

有效：10°至150°

角度分辨率 +/- 0.05°

激光 光纖耦合激光器 120 mW，638 nm

激光強(qiáng)度可調(diào)范圍為 0.01% 至 100%

溫度 達(dá) 90 °C

尺寸（長(zhǎng)x寬x高） 156 x 84 x 31 厘米

LS Instruments光散射儀產(chǎn)品應(yīng)用：

LS Instruments光散射儀LS 光譜儀可變多角度光散射儀 (V-MALS) 可實(shí)現(xiàn)的顆粒表征。LS Spectrometer TM是一款可變多角度光散射儀器 (V-MALS)。在 V-MALS 中，探測(cè)器安裝在可移動(dòng)臂上。LS Instruments光散射儀這樣可以調(diào)整角度，從而提高測(cè)量靈敏度。LS Spectrometer TM結(jié)合獲得的調(diào)制 3D技術(shù)（免稀釋測(cè)量）和 CORENN（改進(jìn)的聚集體檢測(cè)），可實(shí)現(xiàn)市場(chǎng)上的納米顆粒表征?？勺兌嘟嵌裙馍⑸?(V-MALS)與傳感器安裝在固定角度的 MALS 儀器相比，LS Spectrometer TM的探測(cè)器安裝在圍繞樣品的旋轉(zhuǎn)臂上，以便可以且可變地調(diào)整到 12° 至 150° 之間的選定散射角度。LS Instruments光散射儀這有助于顯著提高顆粒尺寸和聚集體檢測(cè)以及衣殼負(fù)載、顆粒形狀或分子量等參數(shù)測(cè)量的靈敏度使用多重散射濾光片進(jìn)行免稀釋測(cè)量DLS 和 SLS 技術(shù)都基于僅檢測(cè)到單個(gè)散射光的假設(shè)。然而，隨著顆粒濃度的增加，多重散射增加并逐漸主信號(hào)。LS Instruments光散射儀這在 DLS 和 SLS 中引入了不可檢測(cè)的系統(tǒng)誤差。LS Instruments 開(kāi)發(fā)了可選的調(diào)制 3D 單元，可有效抑制多重散射。調(diào)制 3D 互相關(guān)技術(shù)使用兩束激光同時(shí)執(zhí)行兩個(gè)散射實(shí)驗(yàn)。LS Instruments光散射儀雖然源自單次散射的是相同的，但在兩個(gè)實(shí)驗(yàn)中多重散射的是不同的。通過(guò)對(duì)信號(hào)進(jìn)行互相關(guān)，多重散射因此被抑制。3D LS 光譜儀是為 DLS 和 SLS 提供此技術(shù)的儀器。CORENN 是一種用于從 DLS 測(cè)量中提取粒度分布 (PSD)。LS Instruments光散射儀顯示了 4 nm 和 45 nm 顆?；旌衔锏?DLS 測(cè)量。有 CORENN 能夠正確確定這兩個(gè)群體。這是表征各向異性粒子的技術(shù)，并且越來(lái)越受到科學(xué)家的關(guān)注：一組兩個(gè)偏振器允許您通過(guò)簡(jiǎn)單的 DLS 測(cè)量來(lái)表征樣品的旋轉(zhuǎn)動(dòng)力學(xué)和各向異性粒子的縱橫比。LS Instruments光散射儀我們大的溫度循環(huán)器使您能夠控制樣品中的溫度。與其他循環(huán)器相比，它顯著減少了加熱和冷卻時(shí)間?？梢酝ㄟ^(guò)LSI的LSI軟件模塊進(jìn)行預(yù)編程，以在不同溫度下進(jìn)行系列測(cè)量。LS Instruments光散射儀許多適合光散射的凝膠狀樣品表現(xiàn)出非遍歷行為，從而導(dǎo)致測(cè)量誤差。LS Instruments 開(kāi)發(fā)了一種測(cè)角儀，可以以適當(dāng)?shù)乃俣刃D(zhuǎn)非遍歷樣品以獲得正確的結(jié)果。LS Instruments光散射儀此外，樣品測(cè)角儀還可用于使樣品偏離旋轉(zhuǎn)。這使得可以使用方形池，其中樣品中的散射光路徑可以減少到小于 200 微米，從而顯著減少多重散射。